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OBLF火花直读光谱仪

OBLF QSG750-Ⅱ直读光谱仪

作者: 来源: 日期:2016-9-1 17:47:46 人气:2
OBLF QSG750-Ⅱ直读光谱仪

QSG-Ⅱ型直读光谱仪是OBLF光谱仪家族里的一个重要成员。通常应用于各种现场环境及实验室多基体金属材料分析检验场合,更具有在纯金属材料检测领域的优异性能。


A.采用国际领先的单火花时间分解(GLSS)技术

B.光栅刻线数依用户的分析要求而定,确保达到最佳的分析效果

C.自动光路校准,光学系统自动进行谱线扫描,确保接受的正确性

D.数据采集系统全部置于真空光室中,真空室局部恒温,受外界环境变换的影响小,重现性及长期稳定性极佳

E.专利设计的自清洁激发台,没有静态氩,大大的减少了氩气的消耗量。

光学系统

帕邢—龙格架法

所有光学及测量器件均安置在真空室中

特殊设计的温度补偿,32℃±0.1℃

可承受最大为15℃/小时的温度变化

步进电机驱动的入射狭缝系统,计算机控制自动描迹

凹面光栅焦距750毫米

光栅刻线数2400条/毫米至4500条/毫米

一级光谱线色散率最小为0.55nm/mm

真空系统

激发光直接进入光学系统

最小的泄露,减少真空泵的运转时间

计算机控制真空泵,运转时间小于5%

氩气冲洗激发台

专利设计的自清洁火花台

最优化的低氩气消耗

气动样品夹用于快速夹持样品

电极寿命大于十万次

脉冲激发光源(GDS-III)

完全免维护激发光源

单火花分析系统

全部固态电路,无辅助间隙

所有激发参数全部由计算机控制改变

激发频率最高为1000赫兹

具有防止短路功能

采用GLSS技术的数据采集系统

每个单火花的线性范围:96dB(1:65,536 or 16 bit)

有4bit的额外调整

激发频率为800赫兹时的测量脉宽可达400微秒

激发频率为800赫兹时的火花激发延迟可达400微妙

每一个GLSS通道均可进行脉宽和延迟调整

完成60个通道的数据传送及处理时间小于700微秒

模块化设计,方便添加分析通道

高压供应

所有的模块均为插接件连接

高压稳定度优于0.2‰

电路自检功能

软件

Windows7操作系统

自动分析程序选择

对一个样品多次分析结果进行平均和对重线性的检查

完全标准化

类型标准化

时间分解分析为标准配置

酸溶及酸不溶铝和夹杂物的分析

样品牌号鉴定

动态控制分析测量结果

分析元素的背景校正、谱线重叠、元素间干扰及100%基体校正

特殊合金曲线建立功能

完整的、开放的曲线回归功能

完整的样品管理系统

远端数据传输

在每一次分析前进行系统检查

输出日期/时间,程序名称,样品名称等

尺寸、重量及电源要求

宽度:1190毫米

深度:900毫米

高度:1,300毫米

仪器使用温度:10℃-30℃

220V±10%, 50/60HZ

耗电量1.5千瓦

分析一个样品时间大约为16秒钟

氩气供应

纯度:99.995%以上

压力:3巴

管路:直径6毫米铜管


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