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日立分析仪器为台式光谱仪系列新增强大解决方案,以应对涂镀层行业的常见挑战

作者:苏州利博斯 来源: 日期:2018-6-7 13:37:43 人气:0

日立分析仪器为台式光谱仪系列新增强大解决方案,以应对涂镀层行业的常见挑战。

FT系列涂镀层测厚仪旨在对生产质量控制发挥关键作用,其在金属饰面处理和电子市场中的具有广泛应用。FT110A FT150 系列为复杂形状的大型零件测量以及小型特征超薄涂层测量提供了新型解决方案。这两种仪器均属于台式 EDXRF(能量色散X射线荧光)光谱仪,具有功能强大的软件和硬件,旨在提高样品分析量,任何操作员都可获得高质量的结果。

     

                                            FT110A                                                                                                              FT150


轻松处理复杂样品

FT110A 包含多个特征,用于测量通常难以处理的零件。可配置全封闭或开槽门的大型腔室,可装入汽车零部件和装饰五金件,与处理小型紧固件一样容易。自动对焦程序可以在离样品表面 80mm 的位置进行测量,非常适合测量凹陷区域或快速测量不同高度的多个零件。自动接近功能提供一键式定位功能,可将X射线组件设置在理想距离,以获得有复验性的结果。宽视角摄像头将呈现整个样品的图像,以便轻松定位所需的测量位置。只需点击图像中的特征,它将自动对准进行分析。

测量纳米级的涂层

FT150 配置高端组件,可以提供精细结构上的超薄涂层的元素分析。毛细聚焦管聚焦X射线束直径小于20μm,实现在样品上聚焦更大强度,并测量小于传统准直器可测量的特征。高灵敏度、高分辨率Vortex®硅漂移探测器(SDD)充分利用光学元件测量微电子设备和半导体上的纳米级涂层。高精度载物台和具备数字变焦功能的高清摄像头可快速定位样品特征,以提高样品分析量。





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